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  • Keithley 4200A-SCS半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
    Keithley 4200A-SCS半導(dǎo)體參數(shù)分析儀

    Keithley 4200A-SCS半導(dǎo)體參數(shù)分析儀 使用 4200A-SCS參數(shù)分析儀(參數(shù)測(cè)試儀)加快各類材料、半導(dǎo)體器件和*工藝的開(kāi)發(fā),完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性能領(lǐng)xian電學(xué)特性參數(shù)分析儀,提供同步電流電壓曲線測(cè)試 (I-V曲線測(cè)試)、電容-電壓曲線測(cè)試 (C-V曲線測(cè)試) 和超快脈沖 I-V曲線測(cè)量。

    更新時(shí)間:2023-10-06型號(hào):訪問(wèn)量:1040
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  • Raytek® Compact MI3 紅外測(cè)溫探頭/高溫計(jì)
    Raytek® Compact MI3 紅外測(cè)溫探頭/高溫計(jì)

    Raytek® Compact MI3 紅外測(cè)溫探頭/高溫計(jì) 雷泰MI3紅外溫度傳感器代表在連續(xù)非接觸式溫度監(jiān)測(cè)的新一代的性能和創(chuàng)新,并廣泛應(yīng)用于OEM應(yīng)用和制造工藝中。 MI3紅外測(cè)溫儀是一個(gè)由一個(gè)微型傳感頭和一個(gè)獨(dú)立的通訊電子系統(tǒng)兩部分組成的測(cè)溫系統(tǒng)。微型傳感頭可安裝在大多數(shù)系統(tǒng)中,并在性能上優(yōu)于更大體積的傳感器,使雷泰MI3在同級(jí)別紅外溫度傳感器中較有優(yōu)勢(shì)。

    更新時(shí)間:2023-10-06型號(hào):訪問(wèn)量:879
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  • ThermoView TV40工業(yè)固定式熱成像系統(tǒng)紅外
    ThermoView TV40工業(yè)固定式熱成像系統(tǒng)紅外

    ThermoView TV40工業(yè)固定式熱成像系統(tǒng)紅外 ThermoView TV40是一款高性能的工業(yè)固定式熱成像系統(tǒng),通過(guò)提供紅外和可見(jiàn)光視頻流,從而能夠?qū)囟葦?shù)據(jù)可視化,幫助加深您對(duì)工藝過(guò)程的了解。TV40能夠全面地提供集成化的溫度控制、監(jiān)控和數(shù)據(jù)存檔解決方案。

    更新時(shí)間:2023-10-06型號(hào):訪問(wèn)量:1033
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  • 福祿克Raytek® MP150 高速線掃描紅外測(cè)溫儀
    福祿克Raytek® MP150 高速線掃描紅外測(cè)溫儀

    福祿克Raytek® MP150 高速線掃描紅外測(cè)溫儀 雷泰MP150紅外行掃描儀是專為使用在高要求的工業(yè)環(huán)境中使用,并可以測(cè)得運(yùn)動(dòng)物體的準(zhǔn)確溫度圖像。這種多點(diǎn)測(cè)量由一個(gè)旋轉(zhuǎn)的光學(xué)系統(tǒng)來(lái)實(shí)現(xiàn)的,它可以在90°視野范圍內(nèi),在一條直線上收集高達(dá)1024點(diǎn)的紅外輻射結(jié)果。

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  • 福祿克Raynger 3i Plus手持式紅外測(cè)溫儀
    福祿克Raynger 3i Plus手持式紅外測(cè)溫儀

    福祿克Raynger 3i Plus手持式紅外測(cè)溫儀-華普通用 Raytek® Raynger 3i Plus 高溫手持式紅外測(cè)溫儀設(shè)計(jì)用于滿足眾多工業(yè)應(yīng)用中的過(guò)程性能要求,包括原生和再生金屬加工以及石化和發(fā)電廠運(yùn)行的苛刻的高溫環(huán)境。 關(guān)鍵指標(biāo) 溫度量程: 700 至 3000ºC (1292 至 5432ºF) 400 至 2000ºC (752 至 3632ºF) 距離系數(shù)比(D:S):250

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  • 日本Otsuka膜厚測(cè)量用多通道光譜儀MCPD系列
    日本Otsuka膜厚測(cè)量用多通道光譜儀MCPD系列

    日本Otsuka膜厚測(cè)量用多通道光譜儀MCPD系列 分光光譜儀種類 MCPD-9800:高動(dòng)態(tài)范圍分光 MCPD-6800:紫外/可見(jiàn)/近紅外光分光光譜儀 MCPD-7700:高感度分光

    更新時(shí)間:2023-10-06型號(hào):訪問(wèn)量:869
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  • 日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES
    日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES

    日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 頭部集成了薄膜厚度測(cè)量所需功能 通過(guò)顯微光譜法測(cè)量高精度絕對(duì)反射率(多層膜厚度,光學(xué)常數(shù)) 1點(diǎn)1秒高速測(cè)量 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)(紫外至近紅外) 區(qū)域傳感器的安全機(jī)制 易于分析向?qū)В鯇W(xué)者也能夠進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析 獨(dú)立測(cè)量頭對(duì)應(yīng)各種inline客制化需求 支持各種自定義

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  • 德國(guó)SPECTRUMA GDA 750 HR輝光放電光譜儀
    德國(guó)SPECTRUMA GDA 750 HR輝光放電光譜儀

    德國(guó)SPECTRUMA GDA 750 HR輝光放電光譜儀 GDOES光譜儀GDA 550 HR和GDA 750 HR是*大的GDOES光譜儀,非常適合研發(fā)任務(wù)?;谀K化概念,可以設(shè)想多種選項(xiàng)組合,因此可以為您的應(yīng)用實(shí)現(xiàn)最佳配置。GDA 550 HR主要用于研究您的導(dǎo)電樣品。GDA 750 HR也用于分析不導(dǎo)電樣品。

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