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德國蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡-華普通用

簡要描述:德國蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡-華普通用蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM兼具出色的成像和分析能力,不依靠浸沒式物鏡依然可以輕松實現(xiàn)1 kV以下的亞納米級分辨力。

  • 產(chǎn)品型號:GeminiSEM
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2023-10-07
  • 訪  問  量:1149

詳細(xì)介紹

品牌其他品牌應(yīng)用領(lǐng)域化工

德國蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡-華普通用 GeminiSEM系列

高分辨,不挑樣

長久以來,蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM一直是高分辨力與寬樣品適用性的代名詞。無論您從事的研究方向是什么,GeminiSEM都可以滿足您的需求。創(chuàng)新的電子光學(xué)系統(tǒng)和新型樣品腔室設(shè)計可讓您擁有更佳的圖像質(zhì)量、易用性和靈活性。蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM兼具出色的成像和分析能力,不依靠浸沒式物鏡依然可以輕松實現(xiàn)1 kV以下的亞納米級分辨力。以下內(nèi)容可以使您進一步了解Gemini電子光學(xué)系統(tǒng)的三大設(shè)計,探索蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM的應(yīng)用潛能。

德國蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡-華普通用

場發(fā)射掃描電子顯微鏡
不導(dǎo)電礦物斷裂表面的納米級特征
  • 更靈活的成像工具 – 配備Gemini 1鏡筒的蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360可以實現(xiàn)各種樣品的高分辨成像、分析和各種應(yīng)用需求的拓展。

  • 更強大的分析能力 - 配備Gemini 2鏡筒的蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460可應(yīng)對更加復(fù)雜的分析工作。連續(xù)可調(diào)的大束流使您可以在成像和分析條件之間無縫切換。

  • 的表征體驗 - 蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560配有Gemini 3鏡筒及其新型電子光學(xué)引擎,讓它在各種工作條件下均可發(fā)揮該系列分辨率特性。



優(yōu)勢

產(chǎn)品系列

了解三種型號的所有詳情,選擇符合您應(yīng)用需求的一款。


蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360


蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360

兩個平行設(shè)計的鏡筒內(nèi)探測器為樣品表征提供更全面的信息場發(fā)射掃描電子顯微鏡

蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460


蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460

幫助您快速分析的同時兼顧大束流和高分辨。場發(fā)射掃描電子顯微鏡讓您的場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460成為原位實驗室。



蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560


蔡司GeminiSEM 560

在低電壓下表征不導(dǎo)電礦物顆粒的表面:GeminiSEM 560,800 V, Inlens SE。


最佳成像條件:釹鐵硼磁鐵的磁疇襯度


“應(yīng)用量子技術(shù)中心"對什么樣的研究感興趣?

Mario Hentschel博士,德國斯圖加特大學(xué)第4物理研究所和應(yīng)用量子技術(shù)中心。
Mario Hentschel博士,德國斯圖加特大學(xué)第4物理研究所和應(yīng)用量子技術(shù)中心。聚合物材質(zhì)的菲涅耳透鏡,通過注塑成型生產(chǎn)。
聚合物材質(zhì)的菲涅耳透鏡,通過注塑成型生產(chǎn)。

斯圖加特大學(xué)應(yīng)用量子技術(shù)中心ZAQuant的Mario Hentschel博士描述了該小組正在研究的課題和應(yīng)用、在實驗室中面臨的挑戰(zhàn)以及如何利用蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560應(yīng)對這些挑戰(zhàn)。

“我們正在研究光學(xué)感應(yīng)和檢測應(yīng)用中最復(fù)雜的微結(jié)構(gòu)和納米結(jié)構(gòu)。因此,我們必須在納米尺度檢查和表征我們的器件。深入了解樣品信息不僅是過程控制和優(yōu)化的核心,在解釋感應(yīng)和檢測方案中涉及的局部現(xiàn)象時也不可少。除了單純的表面形貌信息外,我們也對納米材料組成分以及有意和無意的局部雜質(zhì)感興趣。

"所有這些應(yīng)用都要求電子顯微鏡具有高分辨率與樣品適用性。蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560可以很好地兼顧這兩點。它提供豐富的探測器選擇,從而能夠?qū)Ρ砻娓叩推鸱?、材料襯度、表面邊緣以及樣品的所有不同特征進行成像和突出顯示。在日常工作中,我們經(jīng)常面對差異極大的樣品如形狀大小不同材料組成不同,給顯微表征帶來了很大的挑戰(zhàn)。我們能夠?qū)σ髽O為嚴(yán)苛且高難度的樣品(例如高度絕緣的聚合物和塑料)拍出高質(zhì)量的圖像,使荷電效應(yīng)的影響極小化。該系統(tǒng)可以在低倍和放大倍率下成像。在不久的將來,場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560將被安裝在斯圖加特應(yīng)用量子技術(shù)中心(ZAQuant)新建研究大樓的潔凈室中。ZAQuant的主要研究人員來自物理、機械、電氣工程、化學(xué)等不同領(lǐng)域,其應(yīng)用千差萬別,因此不僅要保持優(yōu)異的成像性能,還必須確保樣品適用性。因此,場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560無疑將成為實驗表征的利器。"

 DE.Mario Hentschel博士,德國斯圖加特大學(xué)第4物理研究所和應(yīng)用量子技術(shù)中心。



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